ZZJ-200M金相顯微鏡
一、概述:
■采用平場消色差光學系統(tǒng)和落射式柯拉照明系統(tǒng),同時在落射照明系統(tǒng)中設(shè)計
防反射結(jié)構(gòu),有效防止反射光干擾成像光線,從而使成像更清晰、視場襯度更
好。
■提供穩(wěn)定可靠的操作機構(gòu),使成像更清晰,操作更簡便。
■顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設(shè)計,結(jié)構(gòu)勻稱,實現(xiàn)鏡體擴展積木化。
■工作臺、光強與粗微調(diào)的低位操作,提高了使用的舒適性。
■廣泛應(yīng)用于各類半導(dǎo)體硅晶片檢測、材料科學研究、地質(zhì)礦物分析及精密工程
等學科領(lǐng)域。
二、技術(shù)規(guī)格: