電子顯微鏡是一種用高能電子束研究物體的科學儀器。掃描電子顯微鏡(SEM)在中間，一個高能集中的電子束被用來形成圖像，而不是光。通過這種方式，我們可以獲得形態(tài)信息(物體的表面特征)、形態(tài)信息(構成物體粒子的形狀和大小)、構成信息(構成物體的元素和化合物及其數(shù)量)和晶體信息(原子在物體中的排列)。

　　今日，小編將介紹電子顯微鏡的缺點：

　　1.電子顯微鏡中的樣本必須在真空中觀察，因此無法觀察活樣本。隨著技術的進步，環(huán)境掃描電子顯微鏡將逐步實現(xiàn)對活樣的直接觀察;

　　2.在處理樣本時，可能會產生樣本沒有的結構，這加劇了后期圖像分析的難度;

　　3.由于電子散射能力極強，容易發(fā)生二次衍射等;

　　4.因為二維平面投影像是一個三維物體，有時看起來并不唯一;

　　5.由于透射電子顯微鏡只能觀察到非常薄的樣本，因此物質表面的結構可能與物質內部的結構不同;

　　6.超薄樣品(100納米以下)，制樣過程復雜，制樣困難，造成損傷;

　　7.通過碰撞和加熱，電子束可能會損壞樣品;

　　另外，購買和維護電子顯微鏡的價格相對較高。