體式顯微鏡用于電子零件\集成電路板\扭頭刀具\(yùn)磁鐵和其他三維檢查和檢查?；谶@些差異，需要在差異倍率條件下觀察被測(cè)物體，如何滿(mǎn)足這些差異要求?可以通過(guò)各個(gè)方面來(lái)處理a.光學(xué)性能b.可選擇視頻視察c.機(jī)器性能d.被測(cè)物體可以通過(guò)光源照明憑證進(jìn)行觀察，通過(guò)選擇差的目鏡\物鏡處理大倍率、大視場(chǎng)等問(wèn)題。當(dāng)只需要大倍率時(shí)，可以通過(guò)交換大倍數(shù)量的鏡子和物鏡來(lái)滿(mǎn)足要求，也可以通過(guò)交換物鏡來(lái)減少視鏡。

　　當(dāng)光學(xué)放大倍數(shù)不足時(shí)，可以使用電子放大倍數(shù)進(jìn)行補(bǔ)償。同時(shí)，我們可以選擇視頻進(jìn)行檢查，并期望大致存儲(chǔ)和保存。有許多視頻方法：A.可直接通過(guò)監(jiān)管器B.能夠通過(guò)數(shù)字(通過(guò)計(jì)算機(jī)(CCD或效仿CCD圖像搜羅卡)C它可以與數(shù)碼相機(jī)相鄰此外，數(shù)碼相秘密考慮差異接口和與顯微鏡相匹配)

　　當(dāng)遇到一些焊接、裝配、大型集成電路板檢查范圍和對(duì)事物間隔的要求時(shí)，我們可以通過(guò)萬(wàn)向支架、轉(zhuǎn)臂支架、大型移動(dòng)平臺(tái)等機(jī)器性能進(jìn)行處理。借助他們的性能特點(diǎn)，我們的測(cè)試可以通過(guò)直接通過(guò)支架安靜平臺(tái)完成。沒(méi)有必要移動(dòng)我們的被測(cè)對(duì)象。ABB由于被檢查的電路板相對(duì)較大，需要進(jìn)行小的傾斜檢查，電路板很難移動(dòng)，只能依靠機(jī)器移動(dòng)來(lái)完成檢查。通用支架的功能可以同時(shí)滿(mǎn)足這些使用要求。

　　光源照明在是否能看到被測(cè)物體方面起著至關(guān)重要的作用。當(dāng)然，在選擇照明時(shí)，有必要證明被測(cè)物體本身的特征(考慮到它對(duì)光的需求，強(qiáng)大\弱\反光等)選擇相應(yīng)的照明物品和照明方法。